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國內高階半導體檢測設備市場切入之機會研究
- ISBN13：9789865662585
- 出版社：財團法人金屬工業研究發展中心
- 作者：陳慧娟
- 裝訂：平裝
- 規格：30cm*21cm*0.9cm (高/寬/厚)
- 出版日：2016/12/08
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商品簡介
目次
商品簡介
半導體高階產品製程朝向愈益微小、精細化發展，在晶片設計與功能日益複雜下，檢測設備的性能要求愈趨精密。未來半導體製程朝向18吋發展的過程中，全球半導體客戶對於檢測設備的要求愈趨嚴格。漢微科於電子束檢測設備為業界龍頭地位，高階光學檢測設備則以美商科磊居市場領先地位。目前台灣半導體設備廠商尚未進入高階半導體光學檢測製程設備市場，國內廠商與國外大廠的技術頗有差距。在半導體檢測關鍵製程設備技術部分，國內半導體設備廠商在雷射源及光學加工關鍵模組等高階檢測關鍵設備技術的含量仍然偏低。
目次
第一章 緒論
第二章 全球高階半導體檢測設備市場動態與趨勢
第三章 台灣高階半導體檢測設備市場動向與展望
第四章 全球高階半導體檢測設備技術與未來發展策略
第五章 國內切入高階半導體檢測設備產業之商機探究
第六章 結論與建議
參考資料
第二章 全球高階半導體檢測設備市場動態與趨勢
第三章 台灣高階半導體檢測設備市場動向與展望
第四章 全球高階半導體檢測設備技術與未來發展策略
第五章 國內切入高階半導體檢測設備產業之商機探究
第六章 結論與建議
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