滿額折
互換性與測量技術基礎(第4版)（簡體書）
- 系列名：“十二五”普通高等教育本科國家級規劃教材
- ISBN13：9787111585176
- 替代書名：Interchangeability and measurment technology foundation
- 出版社：機械工業出版社
- 作者：周兆元
- 裝訂／頁數：平裝／254頁
- 版次：4
- 出版日：2018/03/01
相關商品
商品簡介
商品簡介
本教材共分十一章，內容包括緒論、測量技術基礎、尺寸公差配合與檢測、形位公差與檢測、表面粗糙度與檢測、圓錐和角度公差與檢測、尺寸鏈基礎、光滑極限量規設計、常用結合件的公差與檢測、漸開綫圓柱齒輪的公差與檢測，以及計算機在公差與檢測中的應用舉例等。本書的讀者主要針對在校機械專業的本科學生和工程技術人員，也可以相近專業短學時使用，在內容上進行删减即可。
您曾經瀏覽過的商品
購物須知
大陸出版品因裝訂品質及貨運條件與台灣出版品落差甚大，除封面破損、內頁脫落等較嚴重的狀態，其餘商品將正常出貨。
特別提醒：部分書籍附贈之內容(如音頻mp3或影片dvd等)已無實體光碟提供，需以QR CODE 連結至當地網站註冊“並通過驗證程序”，方可下載使用。
無現貨庫存之簡體書，將向海外調貨：
海外有庫存之書籍，等候約45個工作天;
海外無庫存之書籍，平均作業時間約60個工作天，然不保證確定可調到貨，尚請見諒。
為了保護您的權益，「三民網路書店」提供會員七日商品鑑賞期(收到商品為起始日)。
若要辦理退貨，請在商品鑑賞期內寄回，且商品必須是全新狀態與完整包裝(商品、附件、發票、隨貨贈品等)否則恕不接受退貨。