相關商品
商品簡介
商品簡介
《IGBT疲勞失效機理及其健康狀態監測》通過詳細分析IGBT芯片與封裝疲勞失效機理,在研究失效特徵量隨疲勞老化時間變化規律的基礎之上,通過將理論分析與解析描述相結合,建立了IGBT相關電氣特徵量的健康狀態監測方法,對處於不同壽命階段的IGBT器件健康狀態進行有效評估。《IGBT疲勞失效機理及其健康狀態監測》可作為從事電力電子技術理論與工程的技術人員的參考書,也可作為電力電子與電力傳動專業的本科生?碩士和博士研究生,以及從事電力電子器件方面研究的師生與研究人員的參考書。
您曾經瀏覽過的商品
購物須知
大陸出版品因裝訂品質及貨運條件與台灣出版品落差甚大，除封面破損、內頁脫落等較嚴重的狀態，其餘商品將正常出貨。
特別提醒：部分書籍附贈之內容(如音頻mp3或影片dvd等)已無實體光碟提供，需以QR CODE 連結至當地網站註冊“並通過驗證程序”，方可下載使用。
無現貨庫存之簡體書，將向海外調貨：
海外有庫存之書籍，等候約45個工作天;
海外無庫存之書籍，平均作業時間約60個工作天，然不保證確定可調到貨，尚請見諒。
為了保護您的權益，「三民網路書店」提供會員七日商品鑑賞期(收到商品為起始日)。
若要辦理退貨，請在商品鑑賞期內寄回，且商品必須是全新狀態與完整包裝(商品、附件、發票、隨貨贈品等)否則恕不接受退貨。