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商品簡介
序
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《固體薄膜的光學表征》介紹了光學薄膜表征的多種技術，讀者可以快速了解光學薄膜表征的技術水平和新發展方向。對具體的固體薄膜測試技術，不僅介紹了基本原理，而且結合典型例子進行說明，對薄膜表征具有非常好的借鑒意義。
《固體薄膜的光學表征》的主要內容包括四部分：第一部分為引論與建模（包括引論，光學和非光學相互結合的方法表征多孔氧化鋯樣品，寬光譜區薄膜表征的通用色散模型，從頭計算預測光學特性）；第二部分為分光光度法和橢圓偏振光譜法（包括薄膜的反射光譜成像法光學表征，成像分光光度法的數據處理方法，單層膜與多層膜的在線和離線分光光度法）；第三部分為缺陷和波紋的薄膜表征（包括缺陷薄膜的光學表征，光學薄膜的掃描探針顯微技術表征，共振波導光柵結構，深紫外線柵偏振片的偏振控制）；第四部分為散射和吸收（包括光學薄膜的粗糙度與散射，光學薄膜中的吸收和熒光測量，光學薄膜表征的環形腔衰蕩技術）。全書既討論了表征技術的優點，也沒有規避表征技術的缺點。全書對於固體薄膜技術領域內的應用基礎研究和工程技術研究具有重要的參考價值，適合從事薄膜技術研究和應用領域的工程技術人員、研究生與高年級本科生閱讀及使用，參與固體薄膜表征任務的科學家或工程師都能從書中獲益。
《固體薄膜的光學表征》的主要內容包括四部分：第一部分為引論與建模（包括引論，光學和非光學相互結合的方法表征多孔氧化鋯樣品，寬光譜區薄膜表征的通用色散模型，從頭計算預測光學特性）；第二部分為分光光度法和橢圓偏振光譜法（包括薄膜的反射光譜成像法光學表征，成像分光光度法的數據處理方法，單層膜與多層膜的在線和離線分光光度法）；第三部分為缺陷和波紋的薄膜表征（包括缺陷薄膜的光學表征，光學薄膜的掃描探針顯微技術表征，共振波導光柵結構，深紫外線柵偏振片的偏振控制）；第四部分為散射和吸收（包括光學薄膜的粗糙度與散射，光學薄膜中的吸收和熒光測量，光學薄膜表征的環形腔衰蕩技術）。全書既討論了表征技術的優點，也沒有規避表征技術的缺點。全書對於固體薄膜技術領域內的應用基礎研究和工程技術研究具有重要的參考價值，適合從事薄膜技術研究和應用領域的工程技術人員、研究生與高年級本科生閱讀及使用，參與固體薄膜表征任務的科學家或工程師都能從書中獲益。
序
在現代光學科學與工程應用領域，固體薄膜可以實現光譜分光、光束振幅調制、相位調控、色散修正等功能，在物理化學、材料科學、光電子學、光子學、太陽能轉換、物理光學、半導體物理和激光等領域中廣泛應用。無論是在光學領域應用還是非光學領域裡的固體薄膜，與其相同成分的塊體材料相比，兩者之間具有較大的差異，體現在典型特性方面，如光學常數、微觀結構、橫向非均勻性、折射率梯度、表面粗糙度、孔隙、損傷、缺陷，幾何結構、角分辨散射、極弱吸收和超高反射率等。隨著固體薄膜應用的快速拓展，促進了固體薄膜表征技術的快速發展。
在2016年的德國一捷克共和國光學薄膜表征雙邊研討會上，科學家們達成共識撰寫了一部關於固體薄膜光學表征的書，由德國的Olaf Stenzel和捷克的Miloslav Ohlidal主編。本書的主題是當前固體薄膜光學表征領域的最新技術進展。一個目的是為現代薄膜表征技術提供指導，強調了多種表征技術聯合使用展現的優勢，尤其是非光學技術表征技術；另一個目的是強調建模的作用，展示的模型都是適用於目前工業和部分學術研究需要的、最廣泛的薄膜表征問題。本書介紹了光學薄膜表征的多種技術，讀者可以快速了解光學薄膜表征的技術水平和最新發展方向。對具體的固體薄膜測試技術，不僅介紹了基本原理，而且結合典型例子進行說明，對薄膜表征具有非常好的借鑒意義。
本書的主要內容包括四部分：第一部分為引論與建模（包括引論，光學和非光學相互結合的方法表征多孔氧化鋯樣品，寬光譜區薄膜表征的通用色散模型，從頭計算預測光學特性）；第二部分為分光光度法和橢圓偏振光譜法（包括薄膜的反射光譜成像法光學表征，成像分光光度法的數據處理方法，單層膜與多層膜的在線和離線分光光度法）；第三部分為缺陷和波紋的薄膜表征（包括缺陷薄膜的光學表征，光學薄膜的掃描探針顯微技術表征，共振波導光柵結構，深紫外線柵偏振片的偏振控制）；第四部分為散射和吸收（包括光學薄膜的粗糙度與散射，光學薄膜中的吸收和熒光測量，光學薄膜表征的環形腔衰蕩技術）。全書既討論了表征技術的優點，也沒有規避表征技術的缺點。本書對於固體薄膜技術領域內的應用基礎研究和工程技術研究具有重要的參考價值，適合從事薄膜技術研究和應用領域的工程技術人員、研究生與高年級本科生閱讀及使用，參與固體薄膜表征任務的科學家或工程師都能從本書中獲益。
在2016年的德國一捷克共和國光學薄膜表征雙邊研討會上，科學家們達成共識撰寫了一部關於固體薄膜光學表征的書，由德國的Olaf Stenzel和捷克的Miloslav Ohlidal主編。本書的主題是當前固體薄膜光學表征領域的最新技術進展。一個目的是為現代薄膜表征技術提供指導，強調了多種表征技術聯合使用展現的優勢，尤其是非光學技術表征技術；另一個目的是強調建模的作用，展示的模型都是適用於目前工業和部分學術研究需要的、最廣泛的薄膜表征問題。本書介紹了光學薄膜表征的多種技術，讀者可以快速了解光學薄膜表征的技術水平和最新發展方向。對具體的固體薄膜測試技術，不僅介紹了基本原理，而且結合典型例子進行說明，對薄膜表征具有非常好的借鑒意義。
本書的主要內容包括四部分：第一部分為引論與建模（包括引論，光學和非光學相互結合的方法表征多孔氧化鋯樣品，寬光譜區薄膜表征的通用色散模型，從頭計算預測光學特性）；第二部分為分光光度法和橢圓偏振光譜法（包括薄膜的反射光譜成像法光學表征，成像分光光度法的數據處理方法，單層膜與多層膜的在線和離線分光光度法）；第三部分為缺陷和波紋的薄膜表征（包括缺陷薄膜的光學表征，光學薄膜的掃描探針顯微技術表征，共振波導光柵結構，深紫外線柵偏振片的偏振控制）；第四部分為散射和吸收（包括光學薄膜的粗糙度與散射，光學薄膜中的吸收和熒光測量，光學薄膜表征的環形腔衰蕩技術）。全書既討論了表征技術的優點，也沒有規避表征技術的缺點。本書對於固體薄膜技術領域內的應用基礎研究和工程技術研究具有重要的參考價值，適合從事薄膜技術研究和應用領域的工程技術人員、研究生與高年級本科生閱讀及使用，參與固體薄膜表征任務的科學家或工程師都能從本書中獲益。
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