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商品定價


$200~$399 (1)

出版日期


2020~2021 (1)

裝訂方式


平裝 (1)

作者


王莉靜、郝龍、吳金文 (1)

出版社/品牌


華中科技大學出版社 (1)

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互換性與技術測量基礎(簡體書)
滿額折

1.互換性與技術測量基礎(簡體書)

作者:王莉靜; 郝龍; 吳金文  出版社:華中科技大學出版社  出版日:2020/05/01 裝訂:平裝
本書分為9章,主要包括我國公差與配合方面的最*標準,闡述了技術測量的基本原理,主要包括緒論,測量技術基礎,極限與配合,幾何公差,表面粗糙度及其評定,光滑工件尺寸的檢驗和光滑極限量規的設計,常用典型件的互換性,圓柱齒輪公差與檢測,尺寸鏈計算。
定價:228 元, 優惠價:87 198
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