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裝訂方式


精裝 (1)

作者


周維列、王中林 (1)

出版社/品牌


高等教育出版社 (1)

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掃描電子顯微學及在納米技術中的應用(簡體書)
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1.掃描電子顯微學及在納米技術中的應用(簡體書)

作者:周維列; 王中林  出版社:高等教育出版社  出版日:2007/03/01 裝訂:精裝
在過去的10年中,納米技術的飛速發展使得掃描電子顯微鏡成為了一種分析和構建新納米材料、結構和器件不可缺少的有力的工具。新納米材料的發現需要通過先進的分析技術和技能來獲取高質量的圖片,從而幫助我們理解納米結構,以達到改進合成方法和提高性能的目的。例如場發射槍、背散射電子的探測、X射線元素的圖像化等,已經很大程度地提高了掃描電子顯微鏡在納米材料分析中的應用。除了分析功能之外,掃描電子顯微鏡可以與最新發
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