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$600~$799 (1)

出版日期


2022~2023 (1)
2018~2019 (2)

裝訂方式


平裝 (2)
精裝 (1)

作者


(加)常琳、范國偉、楊秀彬 (1)
王家騏、金光、楊秀彬 (1)
金光、楊秀彬、張峋 (1)

出版社/品牌


國防工業出版社 (3)

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3筆商品,1/1頁
機載光電成像跟蹤測量系統誤差與像移分析(簡體書)
滿額折

1.機載光電成像跟蹤測量系統誤差與像移分析(簡體書)

作者:金光; 楊秀彬; 張峋  出版社:國防工業出版社  出版日:2018/09/30 裝訂:平裝
本書將從成像全鏈路理論出發,對光電成像跟蹤測量系統進行深入分析。全書共分為六章,第一章是對高精度測量和高清晰成像能力的信息化作戰需求與光電成像跟蹤測量設備進行了介紹;第二章介紹了機載光電成像跟蹤測量設備的測量方程的建立過程;第三章介紹一種新的誤差分析方法蒙特卡羅法,並建立了適合蒙特卡羅法的誤差方程,實現了機載光電跟蹤設備多環節測量誤差的綜合;第四章對機載光電成像像移及補償技術進行了分析;第五章建立了由地物到像面的機載光電系統成像數學模型,得到包含載機飛行參數和相機成像參數的瞬時像面像移速度計算公式;第六章詳細介紹了載機運動過程中一定範圍內時時刻刻隨機變化的姿態角和姿態角速度對像面上的像移速度變化的影響,並分析了像移速度變化對應的的像移補償措施。本書深入淺出地介紹了機載光電成像跟蹤測量系統誤差與像移補償計算原理,並以此分析了載體運動對光電成像跟蹤測量精度的影響,通過建立成像測量全鏈路數學模型,對機載測量與穩定成像系統多類型影響因素進行分析與綜合,最後完成成像像移補償方案。本書共6章,內容包括:緒論、機載光電成像跟蹤測量設備的測量方程、機載光電成像跟蹤測量設備誤差分析與綜合、機載光
定價:372 元, 優惠價:87 324
海外經銷商無庫存,到貨日平均30天至45天
光學儀器總體設計(簡體書)
滿額折

2.光學儀器總體設計(簡體書)

作者:王家騏; 金光; 楊秀彬  出版社:國防工業出版社  出版日:2022/01/14 裝訂:精裝
本書主要針對多種型號的光學精密儀器的原理、組成、功能與實際應用進行介紹,然後從光電儀器的設計理念開始,詳盡分析了兩大類光電儀器原理與總體設計,並特別針對多源擾動因素對光電成像測量設備的影響進行了闡述。
定價:768 元, 優惠價:87 668
海外經銷商無庫存,到貨日平均30天至45天
高分辨率光學衛星敏捷姿態控制技術(簡體書)
滿額折

3.高分辨率光學衛星敏捷姿態控制技術(簡體書)

作者:(加)常琳; 范國偉; 楊秀彬  出版社:國防工業出版社  出版日:2019/06/21 裝訂:平裝
本書從對地觀測敏捷小衛星的姿態控制理論出發,對高性能姿控部件、姿態確定算法、姿態控制算法以及地面仿真技術等方面進行深入的分析。全書共分為七章,第一章對當前國內外敏捷小衛星的發展情況進行了概述;第二章介紹了敏捷小衛星的姿態描述方法,並給出了面向控制需求的姿態動力學及運動學模型;第三章介紹了高性能的姿態測量部件,以及當前小衛星常用的姿態執行機構;第四章介紹了幾種敏捷小衛星的在軌姿態確定算法,實現了衛星在軌的真實姿態測量和估計;第五章詳細介紹了敏捷小衛星實現姿態快速機動及穩定控制的若干姿態控制算法;第六章針對以控制力矩陀螺為姿態執行機構的小衛星,闡述了幾種當前主流的操縱率設計方法;第七章詳細介紹了敏捷小衛星的地面仿真技術。
定價:432 元, 優惠價:87 376
海外經銷商無庫存,到貨日平均30天至45天

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