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平裝 (1)

作者


(美)桑迪普‧K.戈埃爾、(印度)科瑞申恩度‧查克拉巴蒂 (1)

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機械工業出版社 (1)

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納米CMOS集成電路中的小延遲缺陷檢測(簡體書)
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1.納米CMOS集成電路中的小延遲缺陷檢測(簡體書)

作者:(美)桑迪普‧K.戈埃爾; (印度)科瑞申恩度‧查克拉巴蒂  出版社:機械工業出版社  出版日:2016/01/01 裝訂:平裝
設計方法和工藝技術的革新使得集成電路的復雜度持續增加。現代集成電路(IC)的高復雜度和納米尺度特征極易使其在制造過程中產生缺陷,同時也會引發性能和質量問題。本書包含了測試領域的許多常見問題,比如制程偏移、供電噪聲、串擾、電阻性開路/電橋以及面向制造的設計(DfM)相關的規則違例等。本書也旨在講述小延遲缺陷(SDD)的測試方法,由于SDD能夠引起電路中的關鍵路徑和非關鍵路徑的瞬間時序失效,對其的研究
定價:359 元, 優惠價:87 312
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