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Laurent Bechou/ Mitsuo Fukuda/ Giovanna Mura/ Massimo Vanzi (EDT) (1)

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1.Advanced Laser Diode Reliability

作者:Laurent Bechou; Mitsuo Fukuda; Giovanna Mura; Massimo Vanzi (EDT)  出版社:Elsevier Science Ltd  出版日:2020/12/01 裝訂:精裝

Advanced Laser Diode Reliability focuses on causes and effects of degradations of state-of-the-art semiconductor laser diodes. It aims to provide a tool for linking practical measurements to physical

定價:4950元   優惠價: 94455