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嵌入式系統中的輻射效應（簡體書）
- ISBN13：9787111582861
- 出版社：機械工業出版社
- 作者：(法)拉烏爾‧委拉茲克
- 裝訂／頁數：平裝／234頁
- 規格：26cm*19cm (高/寬)
- 版次：1
- 出版日：2017/12/28
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商品簡介
商品簡介
本書由法國TIMA實驗室的RaoulVelazco、法國波爾多第壹大學的PascalFouillat和巴西南裡奧格蘭德聯邦大學的RicardoReis共同編著，從環境、效應、測試、評價、加固和預計等方面全面詳細介紹了嵌入式系統中的輻射效應，主要內容包括空間輻射環境、微電子器件中的輻射效應、電子器件的在軌飛行異常、多層級故障效應評估、基於脈衝激光的單粒子效應測試和分析技術、電路的加固方法及自動化工具、輻射效應試驗測試設備以及數字架構的錯誤率預計方法等。本書內容全面、豐富且針對性強，覆蓋了電子器件及系統輻射效應的方方面面。區別於其他電子系統輻射效應論著，本書從工程化的角度論述空間輻射效應評估、地面模擬、軟錯誤率預計等技術以及國際上目前先進的研究方法論，同時兼具基礎性和理論性。本書適合專業從事電子器件及系統輻射效應研究的科研人員和工程化應用的技術人員閱讀和借鑒；同時，也可為該領域的“新人”（如研究生）提供必備的基礎知識。
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