TOP
0
0
【簡體曬書節】 單本79折,5本7折,優惠只到5/31,點擊此處看更多!

縮小範圍


商品類型

原文書 (1)
商品狀況

可訂購商品 (1)
庫存狀況

無庫存 (1)
商品定價

$800以上 (1)
出版日期

2016年以前 (1)
裝訂方式

精裝 (1)
作者

Jane M. Binner (EDT)/ David L. Edgerton (EDT)/ Thomas Elger (EDT) (1)
出版社/品牌

Jai (1)

三民網路書店 / 搜尋結果

1筆商品,1/1頁
Measurement Error: Consequences, Applications and Solutions
作者:Jane M. Binner (EDT); David L. Edgerton (EDT); Thomas Elger (EDT)  出版社:Jai  出版日:2009/10/01 裝訂:精裝
The conference, 'Measurement Error: Econometrics and Practice' was recently hosted by Aston University and organised jointly by researchers from Aston University and Lund University to highlight the e
若需訂購本書,請電洽客服
02-25006600[分機130、131]。

暢銷榜

客服中心

收藏

會員專區