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商品類型

簡體書 (2)
商品狀況

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庫存狀況

無庫存 (2)
商品定價

$199以下 (1)
$200~$399 (1)
出版日期

2016年以前 (2)
裝訂方式

平裝 (2)
作者

雷紹充 (2)
出版社/品牌

西安交通大學出版社 (1)
電子工業出版社 (1)

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2筆商品,1/1頁
SOC測試(簡體書)
作者:雷紹充  出版社:西安交通大學出版社  出版日:2012/01/01 裝訂:平裝
雷紹充、梁峰、張鴻、張國和編著的《SOC測試》系統化介紹SOC測試方法與結構,主要內容包括SOC測試的原理和標準,掃描測試與內建自測試,軟件自測試,測試壓縮,低功耗測試,延遲測試,模擬與混合電路測試,RF電路測試,SOC與NOC測試。 《SOC測試》既可作為高等院校電子與信息、計算機科學與技術和電氣工程類高年級學生和研究生的專業課教材,也可作為從事集成電路設計、制造、測試、應用、EDA和AT
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超大規模集成電路測試(簡體書)
作者:雷紹充  出版社:電子工業出版社  出版日:2008/05/01 裝訂:平裝
VLSI測試與可測性設計方法學已甄成熟,諸多理論和方法也為設計和制造界廣泛接受,亦成為EDA工具的基本特征。本書系統化編撰迄今為止主流的方法學與結構,為讀者進行更深層次的電路設計、模擬、測試和分析打下良好的基礎,也為電路(包括電路級、芯片級和系統級)的設計、制造、測試和應用之間建立一個相互交流的平臺。 本書主要內容包括電路測試基礎,驗證、模擬和仿真,自動測試生成,專用可測性設計,掃描設計,邊界掃描
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