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商品類型

簡體書 (1)
商品狀況

可訂購商品 (1)
庫存狀況

無庫存 (1)
商品定價

$600~$799 (1)
出版日期

2016~2017 (1)
裝訂方式

精裝 (1)
作者

張永剛、顧溢、馬英料 (1)
出版社/品牌

中國科學技術出版社 (1)

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半導體光譜測試方法與技術(簡體書)
滿額折
作者:張永剛; 顧溢; 馬英料  出版社:中國科學技術出版社  出版日:2016/03/01 裝訂:精裝
本書首先介紹了光譜學和光譜儀器的發展概況和基本原理,分析了半導體材料、器件及其應用研究工作以及相關研製和生產中對光譜測試的需求,然後論述各種光譜儀器的分類及其工作原理,分別探討基於分光光譜儀和傅裡葉變換光譜儀等的光譜測量系統,包括其各部分的組成、性能參數要求和搭建實際系統應注意的問題等。在此基礎上書中還就吸收及反射光譜、發射光譜、光電光譜等的具體測量技術,結合各種測量實例,詳細介紹各種不同測量的要
定價:768 元, 優惠價:87 668
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