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165反詐騙

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商品類型
原文書 （1）
商品狀況
可訂購商品 （1）
庫存狀況
無庫存 （1）
商品定價
$800以上 （1）
出版日期
2016年以前 （1）
裝訂方式
精裝 （1）
作者
Osamu Ueda (EDT)/ Mitsuo Fukuda (EDT)/ Kenji Shiojima (EDT)/ Edward Piner (EDT) （1）
出版社/品牌
CAMBRIDGE UNIVERSITY PRESS （1）

三民網路書店 / 搜尋結果

共1筆商品，1/1頁
Reliability and Materials Issues of Iii-v and Ii-vi Semiconductor Optical and Electron Devices and Materials II
1.

Reliability and Materials Issues of Iii-v and Ii-vi Semiconductor Optical and Electron Devices and Materials II

作者：Osamu Ueda (EDT); Mitsuo Fukuda (EDT); Kenji Shiojima (EDT); Edward Piner (EDT)  出版社：CAMBRIDGE UNIVERSITY PRESS  出版日：2012/08/27 裝訂：精裝
Symposium G was held April 9-13 at the 2012 MRS Spring Meeting.
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02-25006600[分機130、131]。
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