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商品定價

$800以上 (1)
出版日期

2016年以前 (1)
作者

Edited by Peter Børgesen 、John C. Coburn 、William F. Filter 、John E. Sanchez、Jr. 、Kenneth P. Rodbell (1)
出版社/品牌

CAMBRIDGE UNIVERSITY PRESS (1)

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Materials Reliability in Microelectronics IV:VOLUME338
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Proceedings from the Materials Research Society symposium held in San Francisco, April 1994. Invited and contributed papers cover oxides, thin films, experimental techniques, stress in semiconductors
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