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165反詐騙

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商品類型
原文書 （5）
商品狀況
可訂購商品 （5）
庫存狀況
無庫存 （5）
商品定價
$800以上 （5）
出版日期
2024年 （1）
2022~2023 （2）
2020~2021 （1）
2016年以前 （1）
裝訂方式
平裝 （1）
精裝 （4）
作者
Narayanaswamy Balakrishnan(EDI) （2）
Balakrishnan, Narayanaswamy (Professor of Statistics, Department of Mathematics and Statistics McMaster University Hamilton, Ontario, Canada; visiting Professor, King Abdulaziz University, Jeddah, Sau （1）
Leandro Pardo (EDT)/ Narayanaswamy Balakrishnan (EDT)/ Maria Angeles Gil (EDT) （1）
Narayanaswamy Balakrishnan （1）
出版社/品牌
Springer Nature （3）
Elsevier Science Publishing Co Inc （1）
Springer Verlag （1）

三民網路書店 / 搜尋結果

共5筆商品，1/1頁
Sharp Inequalities for Ordered Random Variables in Statistics and Reliability: Volume I: Standard Order Statistics
1.

Sharp Inequalities for Ordered Random Variables in Statistics and Reliability: Volume I: Standard Order Statistics

作者：Narayanaswamy Balakrishnan  出版社：Springer Nature  出版日：2024/07/25 裝訂：精裝
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若需訂購本書，請電洽客服
02-25006600[分機130、131]。
Trends in Mathematical, Information and Data Sciences: A Tribute to Leandro Pardo
2.

Trends in Mathematical, Information and Data Sciences: A Tribute to Leandro Pardo

作者：Narayanaswamy Balakrishnan(EDI)  出版社：Springer Nature  出版日：2022/06/26 裝訂：精裝
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02-25006600[分機130、131]。
Trends in Mathematical, Information and Data Sciences: A Tribute to Leandro Pardo
3.

Trends in Mathematical, Information and Data Sciences: A Tribute to Leandro Pardo

作者：Narayanaswamy Balakrishnan(EDI)  出版社：Springer Nature  出版日：2023/06/29 裝訂：平裝
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02-25006600[分機130、131]。
Modern Mathematical Tools and Techniques in Capturing Complexity
4.

Modern Mathematical Tools and Techniques in Capturing Complexity

作者：Leandro Pardo (EDT); Narayanaswamy Balakrishnan (EDT); Maria Angeles Gil (EDT)  出版社：Springer Verlag  出版日：2011/05/25 裝訂：精裝
Real-life problems are often quite complicated in form and nature and, for centuries, many different mathematical concepts, ideas and tools have been developed to formulate these problems theoreticall
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02-25006600[分機130、131]。
Reliability Analysis and Plans for Successive Testing：Start-up Demonstration Tests and Applications
5.

Reliability Analysis and Plans for Successive Testing：Start-up Demonstration Tests and Applications

作者：Balakrishnan; Narayanaswamy (Professor of Statistics; Department of Mathematics and Statistics McMaster University Hamilton; Ontario; Canada; visiting Professor; King Abdulaziz University; Jeddah; Sau  出版社：Elsevier Science Publishing Co Inc  出版日：2021/03/01 裝訂：精裝
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02-25006600[分機130、131]。
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