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裝訂方式
平裝 (1)
出版社/品牌
Springer Verlag (1)
作者
Jiann-shiun Yuan (1)
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Springerbriefs in Reliability

系列：Springerbriefs in...
共 1 筆
第1 / 1 頁
Cmos Rf Circuit Design for Reliability and Variability
90 折
1.

Cmos Rf Circuit Design for Reliability and Variability
出版日：2016/04/21 作者：Jiann-shiun Yuan  出版社：Springer Verlag  裝訂：平裝
The subject of this book is CMOS RF circuit design for reliability. The device reliability and process variation issues on RF transmitter and receiver circuits will be particular interest to the reade
優惠價： 9 2573
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