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出版日期
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出版社/品牌
科學出版社 (2)
作者
(美)LOUIS SCHEFFER (1)
[美]LOUIS SCHEFFER (1)
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Scheffer

作者：Scheffer 商品狀態:無法訂購
共 2 筆
第1 / 1 頁
集成電路系統設計、驗證與測試（簡體書）
87 折
1.

集成電路系統設計、驗證與測試（簡體書）
出版日：2008/06/01 作者：(美)LOUIS SCHEFFER  出版社：科學出版社  裝訂：平裝
本書是“集成電路EDA技術”叢書之一，內容涵蓋了IC設計過程和EDA，系統級設計方法與工具，系統級規范與建模語言，SoC的IP設計，MPSoC設計的性能驗證方法，處理器建模與設計工具，嵌入式軟件建模與設計，設計與驗證語言，數字仿真，并詳細分析了基于聲明的驗證，DFT，而且專門探討了ATPG，以及模擬和混合信號測試等，本書還為IC測試提供了方便而全面的參考。 本書可作為從事電子科學與技術、微電子學與
絕版無法訂購
集成電路實現、電路設計與工藝（簡體書）
87 折
2.

集成電路實現、電路設計與工藝（簡體書）
出版日：2008/06/01 作者：[美]LOUIS SCHEFFER  出版社：科學出版社  裝訂：平裝
本書為“集成電路EDA技術”叢書之一，內容涵蓋從標準的RTL到GDSⅡ的全部設計流程，模擬和混合信號設計，物理驗證、分析與寄生參數提取，電源噪聲分析，工藝仿真，DFM和工藝CAD，并詳細分析邏輯綜合、布局及布線過程，專門探討功耗分析與優化方法、等價性檢驗、靜態時序分析、結構化數字設計和設計收斂，以及適合FPGA設計的特殊方法等。本書可作為從事電子科學與技術、微電子學與固體電子學以及集成電路工程的技
絕版無法訂購
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