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商品定價

$800以上 (4)
出版日期

2020~2021 (2)
2016年以前 (2)
裝訂方式

平裝 (2)
精裝 (2)
作者

Hong Jiao (EDT)/ Robert W. Lissitz (EDT) (4)
出版社/品牌

Information Age Pub Inc (4)

三民網路書店 / 搜尋結果

4筆商品,1/1頁
Application of Artificial Intelligence to Assessment
滿額折
作者:Hong Jiao (EDT); Robert W. Lissitz (EDT)  出版社:Information Age Pub Inc  出版日:2020/03/01 裝訂:平裝
定價:2949 元, 優惠價:1 2949
無庫存,下單後進貨(到貨天數約30-45天)
The Next Generation of Testing ― Common Core Standards, Smarter - Balanced, Parcc, and the Nationwide Testing Movement
滿額折
作者:Hong Jiao (EDT); Robert W. Lissitz (EDT)  出版社:Information Age Pub Inc  出版日:2015/11/01 裝訂:平裝
定價:2949 元, 優惠價:1 2949
無庫存,下單後進貨(到貨天數約30-45天)
The Next Generation of Testing ― Common Core Standards, Smarter - Balanced, Parcc, and the Nationwide Testing Movement
作者:Hong Jiao (EDT); Robert W. Lissitz (EDT)  出版社:Information Age Pub Inc  出版日:2015/11/01 裝訂:精裝
若需訂購本書,請電洽客服
02-25006600[分機130、131]。
Application of Artificial Intelligence to Assessment
作者:Hong Jiao (EDT); Robert W. Lissitz (EDT)  出版社:Information Age Pub Inc  出版日:2020/03/01 裝訂:精裝
若需訂購本書,請電洽客服
02-25006600[分機130、131]。

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