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面向集成電路電阻電容提取的高級場求解器技術(英文)（簡體書）
商品資訊
ISBN13：9787302351511
出版社：清華大學出版社(大陸)
作者：喻文健; 王習仁
出版日：2014/05/01
裝訂／頁數：精裝／249頁
規格：23.5cm*16.8cm (高/寬)
人民幣定價：59.00 元
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商品簡介
商品簡介
電阻、電容（ＲＣ）提取是設計納米製造工藝積體電路的重要步驟，通過它對積體電路中的互連線或襯底耦合效應進行電學建模，為進一步的電路性能驗證、製造良率分析提供基礎。用於ＲＣ提取的場求解器方法直接對電場進行求解，因此具有最高的準確度。為了滿足積體電路設計中準確建模與模擬的要求，場求解器ＲＣ提取方法正變得越來越重要。本書對刻畫超大型積體電路互連線和混合信號積體電路襯底耦合效應的關鍵場求解器提取方法進行了全面、系統的介紹。通過來自實際電路設計的例子，對各種場求解器演算法進行了詳細闡述，並說明它們各自的優點和缺點。
本書適合於電子工程和電腦工程相關專業的研究生和學者閱讀，也可為工作在積體電路設計、設計自動化領域的技術人員提供參考。
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