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掃描近場光學顯微鏡與納米光學測量(簡體書)
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掃描近場光學顯微鏡與納米光學測量(簡體書)

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商品簡介

商品簡介

掃描近場光學顯微鏡能夠突破光學衍射極限實現超分辨成像,因此成為納米光學測量中較重要的工具之一。本書首先對近場光學的基本概念和探測原理進行了概述,然後對近場光學顯微鏡的分類、工作原理、功能模組、關鍵技術、性能指標等進行了闡述。納米光學測量在納米光子學和等離激元光學研究中有諸多重要的應用,包括近場光學超分辨成像、納米尺度光場振幅、相位、向量場、磁場、偏振、光譜等物理參數的測量表徵。本書還介紹了納米光學測量的新原理和新方法,並針對納米子光學、等離激元光學研究中的實驗測量問題引用了國內外大量較新研究成果和實例,闡述了應用前景。 本書可供物理、光學等相關專業的高年級大學生和研究生閱讀,也可作為從事近場光學、納米光子學、等離激元光學等領域研究的科技人員的參考書。

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