Scanning Probe Microscopy: The Lab on a Tip
商品資訊
ISBN13：9783030370916
出版社：Springer Nature
作者：Ernst Meyer
出版日：2022/06/15
裝訂：平裝
規格：23.4cm*15.6cm*1.8cm (高/寬/厚)
商品簡介
Introduction to Scanning Probe Microscopy.- Overview.- Basic Concepts.- Introduction to Scanning Tunneling Microscopy.- Tunneling: A Quantum-Mechanical Effect.- Instrumental Aspects.- Resolution Limits.- Observation of Confined Electrons.- Spin-Polarized Tunneling.- Observation of the Kondo Effect and Quantum Mirage.- Force Microscopy.- Concept and Instrumental Aspects.- Relevant Forces.- Operation Modes in Force Microscopy.- Contact Force Microscopy.- Dynamic Force Microscopy.- Tapping Mode Force Microscopy.- Further Modes of Force Microscopy.- Force Resolution and Thermal Noise.- High-speed AFM.- Multifrequency AFM.- MFM and Related Techniques.- MFM Operation Modes.- Contrast Formation.- Magnetic Resonance Force Microscopy.- Other Members of the SPM Family.- Artifacts in SPM.- Future Aspects of SPM.
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