商品簡介
"Svelare il reticolo cristallino: AI-Enhanced XRD Analysis" approfondisce la rivoluzionaria fusione delle tecniche di diffrazione dei raggi X (XRD) con gli algoritmi di intelligenza artificiale (AI). Poich?la XRD rimane una pietra miliare per la caratterizzazione dei materiali, il libro esplora come l'integrazione dell'IA migliori l'accuratezza, la velocit?e l'efficienza dell'analisi XRD, aprendo nuove frontiere per la ricerca e le applicazioni industriali.Il libro inizia stabilendo una solida base per l'analisi XRD, evidenziandone l'importanza, il contesto storico e le sfide. Introduce poi il concetto di IA e il suo potenziale impatto sull'analisi XRD. Da qui, approfondisce i fondamenti della diffrazione dei raggi X, fornendo ai lettori una comprensione completa della tecnica.Vengono esplorate varie tecniche tradizionali di analisi XRD, tra cui l'analisi qualitativa e quantitativa, l'analisi della struttura e l'analisi delle sollecitazioni residue. Il libro si addentra poi nell'apprendimento automatico e nella sua applicazione all'analisi XRD, trattando la pre-elaborazione dei dati, la selezione delle caratteristiche, gli algoritmi di classificazione, gli algoritmi di regressione e l'uso delle reti neurali e del deep learning.
