Études et caractérisation des couches minces de ZnS

Les semi-conducteurs compos廥 II-VI sont d'une grande importance en raison de leur application dans divers dispositifs 幨ectro-optiques. Les films minces de ZnS trouvent de nombreuses autres applications dans le domaine de la fabrication de dispositifs opto幨ectroniques tels que les diodes 幦ettrices de lumi鋨e UV, les diodes 幦ettrices de lumi鋨e bleue, les 嶰rans plats 幦issifs, les dispositifs 幨ectroluminescents et les rev皻ements antireflets dans la technologie des cellules solaires. Plusieurs m彋hodes ont 彋?utilis嶪s pour pr廧arer des films minces de ZnS. Nous avons d廧os?des films de ZnS par la m彋hode de d廧矌 en bain chimique en utilisant de l'hydroxyde de sodium comme agent complexant. Les caract廨istiques structurelles et morphologiques des films ont 彋?彋udi嶪s par diffraction des rayons X (XRD) et au microscope 幨ectronique ?balayage. La diffraction des rayons X montre que le film d廧os?est de nature polycristalline avec une structure cubique. La taille des grains est estim嶪 entre 35 et 70 nm. La cristallinit?du film de ZnS a 彋?analys嶪 par HRTEM ?l'aide du sch幦a de diffraction 幨ectronique. Les films pr廥entent de bonnes propri彋廥 optiques avec une transmittance 幨ev嶪 dans la r嶲ion visible et la valeur de la bande interdite est de 3,3 eV - 2,1 eV. Les films de ZnS peuvent 皻re utilis廥 comme couches tampons sur les cellules solaires CdTe.