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矽後驗證與調試（簡體書）
商品資訊
系列名：數字IC設計工程師叢書
ISBN13：9787030821331
出版社：科學出版社
作者：(美)普拉巴特‧米什拉; (美)法裡瑪‧法拉曼迪
譯者：魏東;孫健
出版日：2023/10/01
裝訂／頁數：平裝／344頁
規格：24cm*17cm (高/寬)
商品簡介
商品簡介
本書系統闡述矽後驗證和SoC調試中所面臨的關鍵挑戰、前沿技術與最新研究進展,旨在顯著提升驗證效率並降低調試成本.本書彙集了矽後驗證和調試專家的研究成果:第1章概述SoC設計方法學,並強調矽後驗證和調試所面臨的挑戰;第2～6章描述設計調試架構的有效技術,包括片上設備和信號選擇;第7～10章介紹生成測試和斷言的有效技術;第11～15章提供自動化方法,用於定位、檢測和修復矽後錯誤;第16～17章描述兩個案例研究(NoC和IBM POWER8處理器);第18章討論設計調試與安全漏洞之間的內在衝突;第19章展望矽後驗證與調試的未來發展趨勢和潛在突破方向.本書為SoC設計人員、驗證工程師以及對異構SoC的矽後驗證與調試感興趣的研究人員提供了全面的參考資料.
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