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調製與缺陷結構晶體學(簡體書)
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調製與缺陷結構晶體學(簡體書)

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商品簡介

商品簡介

調製與缺陷結構在很大程度上影響著材料的性質與功能,通過實驗手段重構物質或材料的調製與缺陷結構對闡明其構效關係機制十分重要.實驗上通常可利用X射線、中子、電子的衍射和總散射等手段來研究調製與缺陷結構.本書系統性地介紹了調製結構和缺陷結構的實驗測試、模型構建與結構精修所涉及的理論與技術,同時也對完美晶體結構研究所需的晶體學基礎知識作了必要的介紹,旨在讓讀者全面瞭解物質和材料中調製與缺陷結構的分析方法.本書可作為涉及材料結構與性能研究的化學、物理、材料學科研究生和科研工作者的教材或參考書.

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