商品簡介
Ce livre complet propose une exploration approfondie des m彋hodologies essentielles de la diffraction des rayons X sur un seul cristal (SCXRD) et de la cristallographie structurale. En commen蓷nt par les principes de la collecte des donn嶪s et de l'indexation de la r嶨lexion, le livre guide les lecteurs ?travers les subtilit廥 du traitement des donn嶪s, de l'憝aluation de la qualit?et de la d彋ermination de la sym彋rie. L'accent est mis sur les meilleures pratiques pour appliquer l'analyse des groupes d'espace, affiner les mod鋩es atomiques et assurer la fiabilit?des r廥ultats structuraux.Con蓰 pour servir ?la fois d'outil d'enseignement et d'ouvrage de r嶨廨ence, ce volume s'adresse aux 彋udiants de troisi鋗e cycle, aux chercheurs et aux professionnels de la cristallographie, de la science des mat廨iaux et des sciences mol嶰ulaires.
