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商品類型

簡體書 (3)
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無庫存 (3)
商品定價

$199以下 (1)
$400~$599 (1)
$600~$799 (1)
出版日期

2022~2023 (1)
2016~2017 (1)
2016年以前 (1)
裝訂方式

平裝 (2)
作者

田愛玲 (2)
蘇俊宏、田愛玲、楊利紅 (1)
出版社/品牌

浙江大學出版社 (2)
科學出版社 (1)

三民網路書店 / 搜尋結果

3筆商品,1/1頁
非球面光學元件的先進製造和應用技術(簡體書)
滿額折
作者:田愛玲  出版社:浙江大學出版社  出版日:2011/11/01 裝訂:平裝
定價:600 元, 優惠價:87 522
海外經銷商無庫存,到貨日平均30天至45天
光學元件製造技術(簡體書)
滿額折
作者:田愛玲  出版社:浙江大學出版社  出版日:2016/07/11 裝訂:平裝
《光學元件製造技術》從光學設計、光學加工、零件採購及光學檢測不同的角度,介紹了光學零件加工關注的技術問題,主要包括光學設計者關注的問題、傳統的加工方法、其它加工方法、影響工藝設計的因素、以及評價技術等。
定價:192 元, 優惠價:87 167
海外經銷商無庫存,到貨日平均30天至45天
現代光學測試技術(簡體書)
滿額折
作者:蘇俊宏; 田愛玲; 楊利紅  出版社:科學出版社  出版日:2022/01/04 裝訂:平裝
現代光學測試技術研究領域包括光干涉技術、光衍射技術、光偏振技術、光全息技術、光掃描技術、光散斑技術、莫爾技術、光譜技術、光纖技術,等等。本書涉及內容除基本光學測量技術外,主要以光干涉測試技術為主,介紹了各種光學量的測試原理及測試方法。《現代光學測試技術》共11章。第一、二章系統地介紹了現代光學測試技術的基本理論及其發展;第三章介紹了光學材料及其基本參數的測試問題;第四章系統介紹了幾種常用的典型干涉
定價:528 元, 優惠價:87 459
海外經銷商無庫存,到貨日平均30天至45天

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