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2022~2023 （1）

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平裝（2）

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蘇俊宏（1）

蘇俊宏、田愛玲、楊利紅（1）

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1.光學薄膜厚度的光干涉測試方法（簡體書）

作者：蘇俊宏 出版社：科學出版社 出版日：2021/01/07 裝訂：平裝

光干涉計量測試技術是以波長為計量單位，是一種公認的高精度計量測試技術。干涉儀輸出的是一幅干涉圖，借助於數學物理模型，可以將干涉圖與多種被測參數相聯繫，從而實現相關物理參數的測量。薄膜光學常數(折射率、消光係數)和厚度是薄膜設計和製備所必需的重要參數，其受製備工藝的影響不同而不同，因此要製備性能穩定的薄膜器件，提高生產製備的成品率，就必須精確地檢測出各種製備工藝下薄膜器件的光學常數和厚度值。在國家國際科技合作計劃及省部級科技計劃項目的支持下，以高精度的光干涉測試為原理，開展了以多種光干涉測試方法對光學薄膜厚度的測量研究，形成了基於高精度光干涉測試技術的薄膜厚度測量系列方法。

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2.現代光學測試技術（簡體書）

作者：蘇俊宏; 田愛玲; 楊利紅 出版社：科學出版社 出版日：2022/01/04 裝訂：平裝

現代光學測試技術研究領域包括光干涉技術、光衍射技術、光偏振技術、光全息技術、光掃描技術、光散斑技術、莫爾技術、光譜技術、光纖技術，等等。本書涉及內容除基本光學測量技術外，主要以光干涉測試技術為主，介紹了各種光學量的測試原理及測試方法。《現代光學測試技術》共11章。第一、二章系統地介紹了現代光學測試技術的基本理論及其發展；第三章介紹了光學材料及其基本參數的測試問題；第四章系統介紹了幾種常用的典型干涉

定價：528 元，優惠價：87 459

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