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先進光學元件微納製造與精密檢測技術(簡體書)
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出版日:2014/12/01 作者:郭隱彪; 楊平; 王振忠; 楊煒  出版社:國防工業出版社  裝訂:精裝
先進光學元件作為實現特殊光學功能的載體和工具,在光學技術領域中佔據著舉足輕重的地位。先進光學元件開發的核心,主要是實現高精度的製造和檢測。本書以此為出發點,主要內容包括:先進光學元件的高精度製造與檢測相關技術概論;先進光學元件加工裝備技術;先進光學元件磨削技術;先進光學元件拋光技術;先進光學元件精密檢測技術;先進光學元件精密檢測中的數據處理技術;先進光學元件製造加工環境監控技術;超精密加工完整性檢測與評價等方面。本書也包括了作者正在從事的研究領域,以及國內、外近年來取得的最新進展。本書主要介紹了先進光學元件的製造和檢測中的相關技術,特別是對大口徑光學非球面的加工機床的研製、磨削技術、拋光技術、檢測技術及加工環境監控等方面進行了詳細地論述。
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