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集成電路封裝與測試(簡體書)
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出版日:2019/03/18 作者:呂坤頤; 劉新; 彭勇  出版社:機械工業出版社  裝訂:平裝
本書是一本通用的集成電路封裝與測試技術教材,全書共10章,內容包括:緒論、封裝工藝流程、氣密性封裝與非氣密性封裝、典型封裝技術、幾種先進封裝技術、封裝性能的表徵、封裝缺陷與失效、缺陷與失效的分析技術、質量鑒定和保證、集成電路封裝的趨勢和挑戰。其中,1~5章介紹集成電路相關的流程技術,6~9章介紹集成電路質量保證體系和測試技術,第10章介紹集成電路封裝技術發展的趨勢和挑戰。本書力求在體系上合理、完整
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