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$200~$399 (1)
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出版日期
2017年以前 (2)
裝訂方式
平裝 (1)
作者
張仁平 (2)
出版社/品牌
經濟部智慧局 (2)
共 2 筆
第1 / 1 頁
發明專利實體審查基準（一）國際法規與案例彙編
滿額折
1.

發明專利實體審查基準（一）國際法規與案例彙編
出版日：2010/03/01 作者：張仁平  出版社：經濟部智慧局  裝訂：平裝
本教材乃依序說明專利審查基準「第一章說明書及圖式」、「第二章何謂發明」、「第三章專利要件」之國際相關法令規範與案例，其內容主要係依據智慧財產局二○○四年七月一日公告之「專利審查基準」第二篇發明專利實體審查第一章至第三章之相關內容，列舉主要國家、專利組織及國際條約之相關法令規範，包括我國、日本、大陸、歐洲專利條約（EPC）、美國、實質專利法條約（SPLT）草案、與貿易有關之智慧財產權協定（TRIPs
優惠價：85 298
無庫存
發明專利實體審查基準
85 折
2.

發明專利實體審查基準
出版日：2014/02/01 作者：張仁平  出版社：經濟部智慧局  裝訂：平裝
本教材乃依序說明專利審查基準總則部分之國際相關法規、審查基準及案例，其內容主要係依據經濟部智慧財產局二○一三年一月一日公告之「專利審查基準」第二篇發明專利實體審查第一章至第十一章之內容，於各章中首先列舉主要國家、專利組織及國際條約之相關法令規範，包括我國、日本、大陸、歐洲專利條約（EPC）、美國、實質專利法條約（SPLT）草案、與貿易有關之智慧財產權協定（TRIPS）與專利合作條約（PCT）等，以
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