最新集成電路測試技術（簡體書）

本書系統介紹了常用集成電路測試的原理、方法和技術，范圍涵蓋了數字集成電路、模擬集成電路、SOC器件、數字/模擬混合集成電路、電源模塊、集成電路測試系統、測試接口板設計等方面。主要為從事IC測試相關人員全面掌握各類集成電路的測試技術打下良好基礎。
本書首先介紹了集成電路測試的基本概念和理論，包括集成電路測試的基本原理、測試的分類、測試的作用等，然后分別對數字集成電路、存儲器、各類模擬集成電路、數字/模擬混合電路、SOC、DC-DC模塊的測試方法和技術進行了深入細致的介紹，在此基礎上對IDDQ測試技術以及IC設計到測試的瓶頸和融合問題進行了詳細闡述，并以當前主流大規模集成電路測試系統Sapphire為例，詳細介紹了現代集成電路測試系統(ATE)的軟、硬件架構和特點，最后在DIB測試接口板設計技術中深入論述了ATE測試的重要環節負載板(DIB)的設計技術問題。
本書可作為從事集成電路設計、測試、應用和集成電路測試設備開發的研究人員、技術人員以及計劃進入集成電路測試領域的相關人員的學習或培訓教材，也可作為高等院校相關專業本科或研究生的教學參考書。

第1章 集成電路測試概述
　1.1 集成電路測試的定義
　1.2 集成電路測試的基本原理
　1.3 集成電路故障與測試
　1.4 集成電路測試的過程
　1.5 集成電路測試的分類
　1.6 集成電路測試的意義與作用
　1.7 半導體技術的發展對測試的影響
第2章 數字集成電路測試技術
　2.1 概述
　2.2 典型的數字集成電路測試順序
　2.3 數字集成電路測試的特殊要求
　2.4 直流參數測試
　2.5 交流參數測試
　2.6 功能測試
第3章 半導體存儲器測試技術
　3.1 存儲器的組成及結構
　3.2 存儲器的失效模式和失效機理
　3.3 存儲器的故障模型及驗證方法
　3.4 圖形算法在存儲器測試中的作用
　3.5 存儲器的測試項目
　3.6 內建自測試在存儲器測試中的應用
　3.7 存儲器測試需要注意的問題
第4章 模擬集成電路測試技術
　4.1 概述
　4.2 模擬集成運算放大器測試技術
　4.3 模擬集成比較器測試技術
　4.4 影響運算放大器閉環參數測試精度的原因分析
　4.5 集成穩壓器測試技術
　4.6 模擬開關集成電路測試技術
第5章 數模混合集成電路測試技術
　5.1 概述
　5.2 ADC、DAC測試的必要性
　5.3 測試方法
　5.4 基于DSP的測試技術
　5.5 DAC測試技術
　5.6 ADC測試技術
　5.7 數模混合集成電路測試參數分析
　5.8 DA 和AD 測試相關誤差分析
第6章 DSP在混合電路測試中的應用
　6.1 DSP概述
　6.2 DSP測試基礎
　6.3 基于DSP的測試優點
　6.4 基于DSP的功能測試
　6.5 基于DSP的動態參數測試
　6.6 混合信號電路對基于DSP的測試系統的要求
第7章 SOC測試技術
　7.1 前言
　7.2 SOC芯片對測試的要求
　7.3 SOC中混合信號測試
　7.4 SOC混合信號測試的發展方向
第8章IVDQ測試
　8.1 引言
　8.2 IDDQ測試檢測的故障
　8.3 IDDQ測試方法
　8.4 IDDQ測試的局限性
　8.5 △IDDQ測試
　8.6 IDDQ內建電流測試
　8.7 IDDQ可測試性設計
　8.8 小結
第9章 DC-DC參數測試方法
第10章 集成電路測試系統
第11章 設計到測試的鏈接
第12章 測試接口板DIB設計技術
參考文獻