現代光學計量與測試（簡體書）

本書較系統地介紹了光學計量測試的基礎理論、計量基準、計量標準和光學參數測量方法及光輻射、激光參數、光輻射探測器參數、光學材料參數、成像光學、微小光學和微光夜視等方面計量與測試技術。 本書可作為從事光學計量測試工作的科技人員的業務參考書，也可作為工程光學專業和測試計量技術與儀器專業研究生教學參考書。

第1章 緒論
1.1 光學計量測試的研究范疇與發展歷程
1.2 光學計量測試技術的發展趨勢
1.3 計量學主要名詞術語
第2章 光輻射計量與測試
2.1 光輻射計量的基本物理量
2.2 實現光輻射絕對測量的主要途徑
2.2.1 黑體輻射源
2.2.2 低溫輻射計
2.2.3 硅光電二極管自校準技術
2.2.4 雙光子相關技術
2.2.5 同步輻射源
2.3 光輻射標準
2.3.1 光譜輻亮度和輻照度標準
2.3.2 中溫黑體輻射源標準裝置
2.3.3 面源黑體校準
2.3.4 低溫黑體校準
2.3.5 以同步輻射源為基礎的紫外輻射標準
2.4 紅外熱像儀參數計量測試
2.4.1 紅外熱像儀概述
2.4.2 紅外熱像儀評價參數
2.4.3 紅外熱像儀參數測量裝置
2.4.4 紅外熱像儀調制傳遞函數測量
2.4.5 紅外熱像儀噪聲等效溫差測量
2.4.6 紅外熱像儀最小可分辨溫差測量
2.4.7 紅外熱像儀最小可探測溫差測量
2.4.8 紅外熱像儀信號傳遞函數測量
2.4.9 紅外熱像儀參數測量裝置的溯源與校準
2.5 材料發射率測量
2.5.1 材料發射率測量概述
2.5.2 半球積分發射率測量
2.5.3 法向光譜發射率測量
2.6 紅外目標模擬器校準
2.6.1 紅外目標模擬器校準概述
2.6.2 紅外目標模擬器校準裝置
2.6.3 紅外目標模擬器校準數學模型
2.6.4 紅外目標模擬器校準方法
2.7 紅外光譜輻射計校準
2.7.1 紅外光譜輻射計概述
2.7.2 紅外光譜輻射計校準方法
2.7.3 紅外光譜輻射計校準過程
2.8 瞬態光輻射源參數測量與校準
2.8.1 瞬態光及其評價參數
2.8.2 瞬態光譜測量
2.8.3 瞬態有效光強測量
2.8.4 瞬態光輻射參數校準
2.9 光度計量與測試
2.9.1 光度學基本概念
2.9.2 光度學基準
2.9.3 光度計量標準
2.9.4 光度學測量儀器
第3章 激光參數計量與測試
3.1 激光計量參數
3.2 激光參數計量基準
3.2.1 激光功率基準
3.2.2 激光能量基準
3.3 激光參數計量標準
3.3.1 激光功率標準
3.3.2 激光能量標準
3.3.3 脈沖激光峰值功率標準、
3.3.4 激光平均功率和能量標準裝置
3.4 激光參數測量技術
3.4.1 激光功率能量測試技術
3.4.2 高能激光功率與能量測量技術
3.4.3 絕對式測量法中影響因素分析
3.4.4 激光空域特性測量技術
3.4.5 強激光空域特性測量技術
3.4.6 激光時域特性測試
3.4.7 激光損傷閾值測試
3.5 激光測距機參數校準
3.5.1 激光測距機概述
3.5.2 最大測程校準
3.5.3 最小測程校準
3.5.4 測距準確度校準
第4章 光輻射探測器參數計量與測試
4.1 光輻射探測器概述
4.2 光輻射探測器性能的主要表征量
4.2.1 描述探測器靈敏度特性的主要表征量
4.2.2 描述探測器探測弱信號能力的主要表征量
4.2.3 其他表征量
4.3 光輻射探測器光譜響應度測量
4.3.1 相對光譜響應度測量
4.3.2 絕對光譜響應度測量
4.4 探測器面響應度均勻性測量
4.4.1 探測器面響應度均勻性的定義
4.4.2 探測器面響應度均勻性的測量原理及裝置
4.5 光輻射探測器響應度直線性測量
4.5.1 雙孔法測量
4.5.2 多光源法測量
4.6 光輻射探測器時間特性與溫度特性測量
4.6.1 時間特性測量
4.6.2 溫度特性測量
4.7 紅外探測器參數測量
4.7.1 黑體響應率測量
4.7.2 噪聲測量
4.7.3 探測率測量
4.7.4 噪聲等效功率測量
4.7.5 頻率響應測量
4.7.6 紅外探測器參數測量裝置的校準
4.8 紅外焦平面陣列參數測量
4.8.1 特性參數及相關量的定義
4.8.2 響應率、噪聲、探測率和有效像元率等參數測量
4.8.3 噪聲等效溫差測試
4.8.4 動態范圍測試
4.8.5 相對光譜響應測試
4.8.6 串音測試
第5章 光學材料參數計量與測試
5.1 光學材料折射率和色散系數計量測試
5.1.1 光學材料折射率和色散系數測量方法
5.1.2 匕學材料折射率計量標準
5.2 光學材料折射率溫度系數測量
5.2.1 光學玻璃折射率溫度系數測量
5.2.2 紅外材料折射率溫度系數測量
5.3 光學材料應力雙折射計量測試
5.3.1 簡易偏光儀法
5.3.2 單1/4波片法
5.3.3 數字移相全場測量法
5.3.4 光學材料應力雙折射計量標準
5.4 光學材料傳輸特性測量
5.4.1 透射比測量·
5.4.2 光譜反射比測量
5.4.3 光吸收系數測量
5.4.4 光學材料散射系數測量
5.5 光學材料均勻性測量
5.5.1 平行光管測試方法
5.5.2 干涉測量方法
5.6 光學材料其他參數測量
5.6.1 光學材料消光比測量
5.6.2 光學材料線膨脹系數測量
5.6.3 光學材料條紋度測量
5.6.4 光學玻璃氣泡度檢測
5.6.5 材料非線性光學性能測試
5.6.6 橢圓偏振儀測量薄膜厚度和折射率
第6章 成像光學計量與測試
6.1 成像光學系統像質評價
6.1.1 像質評價基本概念
6.1.2 光學傳遞函數基本概念
6.1.3 光學傳遞函數基本測量方法
6.1.4 光學傅里葉分析法傳遞函數測量裝置
6.1.5 光電傅里葉分析法傳遞函數測量裝置
6.1.6 數字傅里葉分析法
6.1.7 光學傳遞函數測量裝置的檢定
6.1.8 光學傳遞函數標準裝置
6.1.9 離散采樣系統光學傳遞函數測量
6.2 光學元件波像差測量
6.2.1 光的干涉基礎
6.2.2 光學元件波像差標準裝置
6.2.3 紅外光學零件表面面形及光學系統波像差測量
6.3 光學系統和元件主要參數測量
6.3.1 焦距測量
6.3.2 相對孔徑測量
6.3.3 視場測量
6.3.4 透過率測量
6.3.5 雜光系數測量
第7章 微小光學計量與測試
7.1 集成光學計量與測試
7.1.1 集成光學概述
7.1.2 集成光波導參數測量
7.1.3 鈮酸鋰集成光學器件參數測量
7.2 梯度折射率光學計量與測試
7.2.1 梯度折射率光學概述
7.2.2 自聚焦透鏡折射率分布測量
7.2.3 自聚焦透鏡數值孔徑測量
7.2.4 自聚焦透鏡焦距測量
7.2.5 自聚焦透鏡聚焦光斑測量
7.3 光導纖維參數測量
7.3.1 纖維光學概述
7.3.2 光纖元件數值孔徑的測量
7.3.3 光纖元件透射比測量
7.3.4 光纖元件刀口響應測量
7.3.5 光導纖維損耗測量
7.3.6 光纖色散測量
7.3.7 單模光纖截止波長測量
7.4 偏振保持光纖參數測量
7.4.1 偏振保持光纖概述
7.4.2 保偏光纖偏振串音測量
7.4.3 保偏光纖拍長測量
7.5 單模光纖偏振模色散測量
7.5.1 偏振模色散的產生
7.5.2 偏振模色散測量方法
第8章 微光夜視參數計量與測試
8.1 微光夜視技術概述
8.2 微光像增強器參數測量
8.2.1 光陰極光靈敏度和輻射靈敏度測量
8.2.2 亮度增益測量
8.2.3 等效背景照度測量
8.2.4 輸出信噪比測量
8.2.5 調制傳遞函數測量
8.2.6 分辨力測量
8.2.7 放大率測量
8.2.8 畸變測量
8.3 微光夜視儀參數測量
8.3.1 微光夜視儀視場測量
8.3.2 微光夜視儀視放大率測量
8.3.3 微光夜視儀相對畸變測量
8.3.4 微光夜視儀分辨力測量
8.3.5 微光夜視儀的亮度增益測量
8.4 微光夜視鏡參數測量
8.4.1 微光夜視鏡視場測量
8.4.2 微光夜視鏡放大率測量
8.4.3 微光夜視鏡畸變測量
8.4.4 微光夜視鏡分辨力測量
8.4.5 微光夜視鏡亮度增益測量
8.4.6 微光夜視鏡光軸平行性測量
參考文獻