In diesem Buch werden mehrere neue Ans酹ze vorgestellt, die den Weg f die n踄hste Generation integrierter Schaltungen ebnen, die auch in sicherheitskritischen Anwendungen erfolgreich und zuverl酲sig integriert werden k霵nen. Die Autoren beschreiben neue Ma nahmen zur Bew鄟tigung der steigenden Herausforderungen im Bereich des Designs f Testbarkeit, Fehlersuche und Zuverl酲sigkeit, die f moderne Schaltungsentwfe unbedingt erforderlich sind. Insbesondere werden in diesem Buch formale Techniken wie das Satisfiability (SAT)-Problem und das Bounded Model Checking (BMC) kombiniert, um die entstehenden Herausforderungen in Bezug auf die Zunahme des Testdatenvolumens, die Testanwendungszeit und die erforderliche Zuverl酲sigkeit zu bew鄟tigen. Alle Methoden werden detailliert diskutiert und unter Berksichtigung von industrie-relevanten Benchmark-Kandidaten ausfrlich evaluiert. Alle Ma nahmen wurden in ein gemeinsames Framework integriert, das standardisierte Software/Hardware-Schnittstellen implementiert.
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