本書系統闡述矽後驗證和SoC調試中所面臨的關鍵挑戰、前沿技術與最新研究進展,旨在顯著提升驗證效率並降低調試成本.本書彙集了矽後驗證和調試專家的研究成果:第1章概述SoC設計方法學,並強調矽後驗證和調試所面臨的挑戰;第2~6章描述設計調試架構的有效技術,包括片上設備和信號選擇;第7~10章介紹生成測試和斷言的有效技術;第11~15章提供自動化方法,用於定位、檢測和修復矽後錯誤;第16~17章描述兩個案例研究(NoC和IBM POWER8處理器);第18章討論設計調試與安全漏洞之間的內在衝突;第19章展望矽後驗證與調試的未來發展趨勢和潛在突破方向.本書為SoC設計人員、驗證工程師以及對異構SoC的矽後驗證與調試感興趣的研究人員提供了全面的參考資料.